本可程式高低溫試驗箱用于試驗電工、電子產品、元器件、零部件及其材料在高、低的環境下存儲、運輸和使用時的適用性試驗，以評估產品的工作性能，適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產品基本環境試驗規程：試驗Z/AD 溫度循環試驗方法

本杭州奧博可程式高低溫試驗箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產品基本環境試驗規程：試驗Z/AD 溫度循環試驗方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標準為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗箱技術）、GB/T11158（高溫試驗箱技術條件）

本可程式高低溫試驗箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產品基本環境試驗規程：試驗Z/AD 溫度循環試驗方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標準為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗箱技術）、GB/T11158（高溫試驗箱技術條件）